近場探頭EM5030LF是用來測試磁場（H）探頭，它有效地屏蔽了電場干擾（E），主要用于電磁兼容整改時定位干擾源的近場探頭。EM5030的頻率范圍是30MHz-3GHz，共4種探頭形狀；EM5030LF的頻率范圍是9kHz-50MHz，共3種探頭形狀。探頭通過 50Ω的電纜直接與頻譜儀或者示波器連接。當產(chǎn)品的輻射或傳導干擾超過標準時，可用近場探頭來尋找產(chǎn)品中哪個元件或電路產(chǎn)生了該頻率的干擾

一、概述

       EM5030/EM5030LF系列探頭組包含了7個專門用來測試磁場（H）探頭，它有效地屏蔽了電場干擾（E），主要用于電磁兼容整改時定位干擾源的近場探頭。EM5030的頻率范圍是30MHz-3GHz，共4種探頭形狀；EM5030LF的頻率范圍是9kHz-50MHz，共3種探頭形狀。探頭通過 50Ω的電纜直接與頻譜儀或者示波器連接。當產(chǎn)品的輻射或傳導干擾超過標準時，可用近場探頭來尋找產(chǎn)品中哪個元件或電路產(chǎn)生了該頻率的干擾，能夠檢測模塊之間的耦合通道以及評估系統(tǒng)內(nèi)信號切換速率、RF 電壓等。當干擾信號比較弱時，可以配合 EM5020A(20dB 增益)或者 EM5020B(30dB 增益)前置射頻射頻放大器可以提高系統(tǒng)測試靈敏度。

二、近場探頭EM5030LF規(guī)格表

三、近場探頭EM5030LF應用

(1）EMI 輻射干擾源定位

(2）電磁場強度檢測

四、操作方法

1、初步掃描： 使用近場探頭對EUT進行初步掃描，覆蓋設備的各個區(qū)域。記錄下所有超出限制的頻點和信號強度，這一步有助于快速識別潛在的EMI問題。

2、詳細測量： 對初步掃描中發(fā)現(xiàn)的異常頻點進行詳細測量，調(diào)整RBW和VBW以獲得更高的頻率分辨率。逐步移動探頭，并觀察頻譜儀上的信號變化，記錄每個頻點的峰值功率、電平和頻率。

3、定位干擾源： 通過逐步縮小探頭的掃描范圍，可以精確定位干擾源的位置。對于復雜電路板，可以利用電場探頭和磁場探頭交替測量，以判斷干擾信號的性質(zhì)和源頭。

4、遠近結(jié)合： 如果找到了一些明顯的干擾源，可以進一步結(jié)合遠場測試數(shù)據(jù)進行分析，以確認這些干擾是否會傳導到設備外部，并最終影響到周圍環(huán)境。

五、其它型號

       EM5030E系列探頭組包含了2個專門用來測試電場(E)的探頭，覆蓋頻率范圍為30MHz到3GHz，主要應用于查找電場干擾源，除了探頭其他部分均為屏蔽設計。