日本巖崎IWATSU軟磁B-H分析儀的產品介紹

一、概述

       日本巖崎BH分析儀，軟磁材料測試儀SY-8219/SY-8218 磁特性的磁通密度B（以T為單位），磁場強度H（為A/m為單位）采用普遍的X-Y軸，這里被描述的曲線稱為B-H曲線。作為測量B-H曲線的方法，有直流的評估方法和交流的評估方法。

二、測試方法

       Iwatsu的BH分析儀采用CROSS-POWER方法（IEC62044-3），可實現精確，高精度的測量，在頻譜上嵌入min小化的相位誤差積分，電流檢測電阻和檢測電路補償，幅度和相位補償。

       半導體曲線圖示儀 CS3100/3200/3300（峰值電壓3000V，峰值電流1000A）, CS5000系列（峰值電壓5000V，峰值電流1000A），CS10000系列（峰值電壓10KV，峰值電流8000A），適用于IGBT、MOSFET、三極管、二極管等各種半導體特性測試的標準型號，采用電路圖模式顯示內部的配線狀態，可通過確認實際波形，適時調整脈寬和測試點。具有能確認實際印加電流/電壓波形的Wave模式，可以像示波器一樣通過觀測模塊上實際印加的波形 （電流、電壓）來確定脈寬和實際測試點 （MEASUREMENT POINT），可通過確認實際波形，適時調整脈寬和測試點，避免了示波器的探棒影響，可確認到實時的異常信號，可非常容易地確認到模塊發熱等引起的振蕩等熱異常情況。

       隔離探針在通過光學隔離隔離輸入/輸出端子的系統中，在高電壓環境下以高分辨率和安全方式執行波形測量有助于高壓環境測試的安全性使用差分探頭提高測量質量，非常有效地測量抗噪性，支持各種物體，如雷擊浪涌和充電測試等，測量遠點（開關，運輸設備等），分析在遠處發生多次異常操作時的故障因素，（隔離單元可以設置在每個地方，總共多達4套）

三、特點

1、實現穩定高精度測量采用標準的校準電阻，壓粉鐵芯等的鐵損極為小的材料也有可能穩定并高精度測量。

2、采集的波形資料，本產品以8192點周速率采集的波形數據，是本公司比之過去的16倍，能夠高精度地測量矯頑磁力和剩余磁通密度等。

3、標準配置作業靠近脈沖勵磁可選擇性地在正弦波勵磁加上標準裝備脈沖勵磁（可達1MHz、50%占空比）。

4、配置可比較參數的設置能夠比較不同測量條件下同一產品的的B-H曲線。

5、裝載兩種類型的游標顯示任意點的測量值、導磁率用可能十字和傾斜的兩種光標。一般的十字外加“傾斜游標"是只合起B，B-H曲線的任意點的導磁率測量就是接受客戶建議進行功能優化的，為測試提供方便。

四、鐵損是磁性材料本身丟失的電能，大致分為下面3類

1、磁滯損耗

2、渦流損耗

3、剩余損耗

       磁滯損耗是指鐵磁材料作為磁介質，在一定勵磁磁場下產生的固有損耗；（在電能轉換磁能過程中所產生的損耗）；渦流損耗是指磁通發生交變時，鐵芯產生感應電動勢進而產生感應電流，感應電流呈旋渦狀，稱之為渦流；感應電流在鐵芯電阻上產生的損耗就是渦流損耗；剩余損耗是指除磁滯損耗和渦流損耗以外的損耗，由于所占比重較小，也可忽略不計。